檢索結果：共7筆資料 檢索策略： "Sy-Yen Kuo".ecommittee (精準) and cadvisor.raw="呂學坤"
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隨著先進製程的快速發展，積體電路的設計變得更加複雜。由於先進製程更容易受到製程瑕疵 (Defect) 的影響，使得晶片的品質與可靠度提升等議題逐漸受到重視。2.5維積體電路 (2.5D IC) 的特…
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影像編碼技術 H.264/AVC 採用了許多新方法使得編碼效率比之前的標準提升至少50%，因此已成為主流的編碼方式。但新的方法也大幅增加編碼的運算量與複雜度。以 HDTV 規格為例，整個視訊編碼過程…
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針對記憶體中的故障細胞，除了只使用備用行或備用列來取代之外，錯誤更正碼也被認為是一種有效率的修復技術。錯誤更正碼若被用來處理永久性的故障 (Permanent Faults)，記憶體在製程上的良率與…
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本論文的主題在於探討容誤技術 (Error-Tolerance, ET)，由於現在VLSI 製程的演進使得元件尺寸大幅下降，但也因此在製造過程中發生瑕疵的機率也隨之提昇而使得良率變低。而容誤是一種應…
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現今，因資料密集性的應用，有著越來越多的矽智財被整合至SoC設計中。然而，傳統匯流排架構可能無法提供足夠的頻寬、延遲時間以及平行性。晶片網路源自於大型電腦網路的概念，是種新興的設計範式。其提供高頻寬…
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隨著積體電路 (Integrated Circuit, IC) 設計技術的進步，電路越來越複雜，積體電路設計工程師所需要處理的問題越來越多，包含繞線與功率消耗的問題。而在二維積體電路 (2-Dime…
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隨著製程進步電晶體縮小，使得記憶體密度提高之外，也造成良率與可靠度的下降，提升良率與可靠度也是先進記憶體有待改善的共同課題。本篇論文針對兩種新興的記憶體组 NROM 及 PCM 提出良率與可靠度的改…